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- OMNIOmni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀
Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀結合了背向光散射技術與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術，擁有15°，173°、90三個散射角度，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性，硬件PALS技術*解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的測量。
- 型號：OMNI
- 更新日期：2024-10-21 ￥面議
